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  • 单晶少子寿命测试仪 LY.4-LT-3
    单晶少子寿命测试仪 LY.4-LT-3

    单晶少子寿命测试仪 LY.4-LT-3 *.该仪器参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于 测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命; *.测试单晶电阻率范围: 0.3Ω.cm; *.可测单晶少子寿命范围: 1μS-10000μS;......

    更新时间:2017-01-18型号:浏览量:508
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